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科研級微分干涉金相顯微鏡WY-52DIC配有大范圍移動的載物臺、采用優(yōu)良的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與多功能、模塊化的設(shè)計(jì)理念,帶有偏光裝置、微分干涉裝置,可實(shí)現(xiàn)偏光觀察、微分干涉觀察等功能。緊湊穩(wěn)定的高剛性主體,充分體現(xiàn)了顯微鏡操作的防振要求。符合人機(jī)工程學(xué)要求的理想設(shè)計(jì),使操作更方便舒適,空間更廣闊。適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究,或用于TFT液晶顯示屏導(dǎo)電粒子分析研究。是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)、半導(dǎo)體工業(yè)、硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)等觀察研究的理想儀器??偡糯蟊稊?shù):50-800X。
◆產(chǎn)品特點(diǎn):
1、采用了先進(jìn)的無限遠(yuǎn)光路設(shè)計(jì),提供了出色的光學(xué)系統(tǒng)。
2、采用大視野目鏡和無限遠(yuǎn)長距平場物鏡,視場平坦,成像清晰。
4、整機(jī)采用了防霉處理,保護(hù)了鏡頭,延長了儀器的使用壽命。
5、兩路光路自由切換輸出,一路用于觀察,一路連接攝像裝置。
6、配有大范圍移動的移動載物臺,適合對大型工件觀察和研究。
◆典型應(yīng)用:
1、電子工業(yè)制造業(yè)對硅片、電路基板、FPD、PCB板、芯片檢驗(yàn),
2、觀察材料表面的某些特性,
3、分析金屬、礦相內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織。
一、顯微鏡參數(shù):
序號
名稱
技術(shù)參數(shù)
01
平場目鏡
大視野WF10X(Φ22mm)
02
明暗平場物鏡
無限遠(yuǎn)長距PLL 5X/0.10DIC、10X/0.25DIC、20X/0.40DIC、50X/0.60、80X/0.75
03
總放大倍數(shù)
50X-800X
04
觀察頭
三目,鉸鏈?zhǔn)?/span>30°傾斜可360°旋轉(zhuǎn)
05
轉(zhuǎn)換器
五孔(內(nèi)向式滾珠內(nèi)定位)
06
粗微調(diào)焦機(jī)構(gòu)
粗微動同軸調(diào)焦,帶鎖緊和限位裝置,微動格值:2μm.
07
載物臺
雙層機(jī)械移動式(尺寸:280mmX270mm,移動范圍: 204mmX204mm)
08
光瞳距離
53-75mm
09
落射照明系統(tǒng)
12V50W鹵素?zé)? 亮度可調(diào)
內(nèi)置視場光闌、孔徑光闌、(藍(lán)、綠、黃、磨砂玻璃)濾色片轉(zhuǎn)換裝置,
10
偏光裝置
推拉式起偏振器 微分干涉相襯插板適用于5X,10X,20X,DIC物鏡
11
儀器重量
凈重11.0公斤 毛重12.5公斤
12
儀器尺寸
儀器尺寸42X45X45(cm) 包裝尺寸45X50X50(cm)
二、目鏡參數(shù):
型號
T ype
放大倍率
Magnification
視場直徑(mm)
F.O.V
外徑(mm)
Tube diameter
WF10X/22
10X
Φ22
Φ30.0
三、物鏡參數(shù):
放大倍率 Magnification
數(shù)值孔徑 N.A
分辨率 R(μm)
工作距離WD(mm)
共軛距離Conjugate(mm)
齊焦距離Parfocus(mm)
蓋玻片厚度CoverGlass(mm)
5XDIC
0.12
2.55
18.2
∞
45
無
10XDIC
0.25
1.10
20.2
∞
45
無
20XDIC
0.40
0.70
6.00
∞
45
無
40X
0.60
0.55
3.98
∞
45
無
80X
0.80
0.42
1.25
∞
45
無